Harburg - Die Technische Universität hat eine neue Elektronenmikroskopeinheit, bestehend aus einem Transmissionselektronenmikroskop (TEM) sowie einem Ionenstrahl-Rasterelektronenmikroskop (FIB), bekommen. Die 3,1 Millionen Euro teure Anlage kommt in der Matreialwissenschaft zum Einsatz. Damit ist es möglich Materialien elementspezifisch und dreidimensional zu charakterisieren. Die neuen Hochleistungsmikroskope sollen helfen die  Geheimnisse von natürlichen Gewebestrukturen zu entschlüsseln. sie werden außerdem für die Entwicklung neuartiger Materialkonzepte genutzt. zv